Carampin Raul

LABORATORIO DI MICROANALISI

MICROSONDA ELETTRONICA CAMECA SX 50

 

 

 

 

 

Strumentazione:

• Microsonda Cameca SX 50. Lo strumento, costruito all'inizio degli anni novanta, è equipaggiato con quattro spettrometri verticali a dispersione di lunghezza d’onda (WDS) ai quali sono associati 2 cristalli analizzatori TAP, 2 PET, 3 LIF e 1 PC1 e con rilevatori per SE, BSE . Uno spettrometro a dispersione di energia EDS è dedicato ad acquisire istantaneamente lo spettro di emissione e ad identificare velocemente gli elementi presenti. Una telecamera collegata ad un monitor permette di osservare il campione in luce trasmessa e riflessa.
• Sistemi Hardware-Software della ditta SAMx costituiti da: XMAS per eseguire analisi con sistema WDS ed EDS IDFIX per gestire rilevatori EDS. HIMAX per acquisire immagini (SE, BSE, RX) con scansione del fascio e del campione MAXVIEW per trattamento immagini
• Metallizzatore a grafite, vuoto secondario (10-5 ) Edwards mod. E 306.
• Stereo Microscopio Zeiss e Microscopio Leitz a luce riflessa e trasmessa
• L'attività analitica principale e' dedicata alle Scienze della Terra (silicati, ossidi, carbonati, fosfati, solfati e solfuri), alle Scienze dei Materiali (vetri, ceramiche) e all'archeologia (leghe metalliche, terracotta, ceramiche, etc).

 

Caratteristiche principali della strumentazione:

• Analisi non distruttive
• Analisi su volumi di pochi microns cubi
• Portacampioni con 3 sezioni rettangolari (27 x 47 mm) e 6 sezioni tonde (f = 1 inch) con uno spessore massimo di 1 cm
• Possibilità di dosare elementi chimici a partire da Z 9
• Possibilità di dosare sino a 20 elementi
• Tempi di misura di circa 2 minuti (riferiti a condizioni di misura standard per 10 elementi)
• Possibilità di analizzare in automatico sequenze di punti, linee o griglie
• Limite di rilevabilità dell’ordine di 300 ppm (0.03 %)
• Precisione analitica del 2% per elementi maggiori e di 4-5% per elementi minori

Trattamento dei dati:

• possibilità di elaborare i dati acquisiti con differenti programmi di correzione PAP,  XPP,  ZAF
• acquisizione line-scan (counts) con scansione del campione, dello spettrometro e del fascioesportazione delle acquisizioni  (conteggi picco e fondo, IX/Istd, Kratio, coeff. ZAF) in formato ASCIIesportazione dei risultati analitici (% elemento e % ossido) in formato ASCII      
• calcolo statistico on-line ed  esecuzione on-line del calcolo della formula cristallochimica
• esportare ed aprire immagini nei formati gif, jpg, bmp, tif, wmf

Metodiche Analitiche:

• Sono state definite particolari metodiche in funzione dei minerali da analizzare (pirosseni, olivine, plagioclasi, felspati, osside e spinelli, e per le analisi dei vetri. Inoltre è possibile  misurare il Fe³⁺ nei granati del mantello applicando il “Flank metodo”.

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